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专为以下工程师度身定制:<BR> <BR> - 专为通讯,消费电子和IC行业的测试而创建的ATE测试平台;<BR> - 渴望加速产品开发周期并大幅提高效率;<BR> - 需要更进一步了解NI模块化仪器产品及应用详细内容。<BR> <BR>通过本场研讨会,您将学习到:<BR> <BR> - 了解在创建基于PXI的ATE测试系统时必需的技术要点,尤其是针对通讯,消费电子和IC行业的测试;<BR> - 学习上述行业设计和测试的难点以及如何克服这些难点;<BR> - 通过实际的案例学习模块化仪器的应用‘<BR><BR>本场研讨会中,涉及的产品包括:<BR> <BR> 2输入/2输出 24位动态信号采集与生成设备<BR> 200 MHz 信号发生器<BR> 200 MHz 高速数字化仪<BR> 100 MHz 高速数字IO<BR> 数字万用表和开关模块<BR> 射频测量和发生设备<BR> 最新的 7位半数字万用表 - NI PXI-4071 <BR> 最新的 可变分辨率数字化仪 - NI PXI-5922<BR> <BR> 在本次研讨会中,NI主讲工程师将现场穿插不同的应用演示,帮助您进一步理解基于PXI的模块化仪器的优势所在。<BR> <BR>预备知识提示:<BR> <BR> - 了解基于计算机技术的测量与自动化系统<BR> - 了解示波器、万用表、信号源等的基本运作<BR> <BR> 了解更多模块化仪器信息:http://ni.com/china/mi<BR> <BR>时间和地点:<BR> <BR> 2006/2/21 东莞 14:00-17:00 东莞银城酒店四楼名仕1号厅(东莞市南城区莞太大道48号)<BR> 2006/2/24 深圳 14:00-17:00 深圳荔园酒店6楼大会议厅(深圳红岭中路1018号)<BR> <BR> 更多信息请访问http://www.ni.com/china,或与NI上海分公司联系:上海市曲阳路800号商务大厦6楼(200437),电话:(021)65557838,传真:(021)65556244,E-mail:china.info@ni.com。免费咨询电话:800 820 3622