| 内 容： |
专为以下工程师度身定制：
- 专为通讯，消费电子和IC行业的测试而创建的ATE测试平台；
- 渴望加速产品开发周期并大幅提高效率；
- 需要更进一步了解NI模块化仪器产品及应用详细内容。
通过本场研讨会，您将学习到：
- 了解在创建基于PXI的ATE测试系统时必需的技术要点，尤其是针对通讯，消费电子和IC行业的测试；
- 学习上述行业设计和测试的难点以及如何克服这些难点；
- 通过实际的案例学习模块化仪器的应用‘
本场研讨会中，涉及的产品包括：
2输入/2输出 24位动态信号采集与生成设备
200 MHz 信号发生器
200 MHz 高速数字化仪
100 MHz 高速数字IO
数字万用表和开关模块
射频测量和发生设备
最新的 7位半数字万用表 - NI PXI-4071
最新的 可变分辨率数字化仪 - NI PXI-5922
在本次研讨会中，NI主讲工程师将现场穿插不同的应用演示，帮助您进一步理解基于PXI的模块化仪器的优势所在。
预备知识提示：
- 了解基于计算机技术的测量与自动化系统
- 了解示波器、万用表、信号源等的基本运作
了解更多模块化仪器信息：http://ni.com/china/mi
时间和地点：
2006/2/21 东莞 14:00-17:00 东莞银城酒店四楼名仕1号厅（东莞市南城区莞太大道48号）
2006/2/24 深圳 14:00-17:00 深圳荔园酒店6楼大会议厅（深圳红岭中路1018号）
更多信息请访问http://www.ni.com/china，或与NI上海分公司联系：上海市曲阳路800号商务大厦6楼（200437），电话:(021)65557838，传真:(021）65556244，E-mail：china.info@ni.com。免费咨询电话：800 820 3622 |
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