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NI模块化仪器应用研讨会

专为以下工程师度身定制：
　　
　　- 专为通讯，消费电子和IC行业的测试而创建的ATE测试平台；
　　- 渴望加速产品开发周期并大幅提高效率；
　　- 需要更进一步了解NI模块化仪器产品及应用详细内容。
　　
通过本场研讨会，您将学习到：
　　
　　- 了解在创建基于PXI的ATE测试系统时必需的技术要点，尤其是针对通讯，消费电子和IC行业的测试；
　　- 学习上述行业设计和测试的难点以及如何克服这些难点；
　　- 通过实际的案例学习模块化仪器的应用‘

本场研讨会中，涉及的产品包括：
　　
　　2输入/2输出 24位动态信号采集与生成设备
　　200 MHz 信号发生器
　　200 MHz 高速数字化仪
　　100 MHz 高速数字IO
　　数字万用表和开关模块
　　射频测量和发生设备
　　最新的 7位半数字万用表 - NI PXI-4071
　　最新的 可变分辨率数字化仪 - NI PXI-5922
　　
　　在本次研讨会中，NI主讲工程师将现场穿插不同的应用演示，帮助您进一步理解基于PXI的模块化仪器的优势所在。
　　
预备知识提示：
　　
　　- 了解基于计算机技术的测量与自动化系统
　　- 了解示波器、万用表、信号源等的基本运作
　　
　　了解更多模块化仪器信息：http://ni.com/china/mi
　　
时间和地点：
　　
　　2006/2/21 东莞 14:00-17:00 东莞银城酒店四楼名仕1号厅（东莞市南城区莞太大道48号）
　　2006/2/24 深圳 14:00-17:00 深圳荔园酒店6楼大会议厅（深圳红岭中路1018号）
　　
　　更多信息请访问http://www.ni.com/china，或与NI上海分公司联系：上海市曲阳路800号商务大厦6楼（200437），电话:(021)65557838，传真:(021）65556244，E-mail：china.info@ni.com。免费咨询电话：800 820 3622

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