公司名称：苏州泰思特电子科技有限公司
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更新时间：2011/7/13 15:19:44

　　半导体静电放电发生器(器件敏感度 ESD-606A)专门为半导体器件抗静电测试(HBM人体模式和MM机械模式）而设计，通过阻容套件的改变来满足标准　MIL-STD-883D METHOD3015.7、EIAJED-4701 ConditionB 和 EIAJED-4701 ConditionA 的测试要求。人性化设计、使用方便。

详情请登陆网站查询: http://www.sztest.cebiz.cn
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项　目　　　　 MIL-STD-883D/METHOD3015.7 /IEC747-1 EIAJED-4701
输出　　　　　　　　　　电压0—8kV
输出　　　　　　　　　　电压极性正/负
放电电容　　　　　　100pF±5%/200pF±5%
放电电阻　　　　　　　 1.5kΩ/0 Ω
工作形式　　　　　　　 单次/计数
放电次数设定　　　　　　1～9999
放电间隔　　　　　　　 0.1～9.9s